试验系统主要由3部分组成：上位机监测控制器，下位机单片机测控模块和无线通信模块。
上位机监测控制器实现设定试验参数、类型、保存实验数据等功能，下位机单片机测控模块实现采集试验数据、控制试验时序、试验数据存储。
电寿命试验测控模块功能实现了无线通信、数据采集、试验时序控制、试验数据存储。试验测控模块原理框如图1所示。图1中，MCU使用MSP430单片机，具有低耗能、较快数据采集、足够大数据存储空间、串口通信功能，支持USB，有丰富的I/O资源等优点。由CC2530芯片为核心的无线通信模块，具有传输速率高、功耗低、可组建局域网、固化无线技术等特点，便于通信功能的设置和软件开发。